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Summary:
納米級(jí)的高速，高精度圖案測量
3D地形成像
樣品表面不規(guī)則的成像
復(fù)雜電路圖案的自動(dòng)關(guān)鍵尺寸測量
MEMS，納米壓印光刻和各種絕緣材料的測量和成像
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馬舍科技（上海）有限公司專注于儀器設(shè)備領(lǐng)域。在半導(dǎo)體后道測試，高速，F(xiàn)PGA，光模塊以及射頻領(lǐng)域積累了豐富的，面向用戶的，方案級(jí)的可靠經(jīng)驗(yàn)。
馬舍科技（上海）有限公司的技術(shù)專家在本行業(yè)都擁有超過15年的經(jīng)驗(yàn)，可以根據(jù)用戶需求定制可承擔(dān)的方案。
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